Sticanje praktičnih znanja iz oblasti karakterizacije i testiranja mikroelektronskih kola, eksperimentalni rad sa mernim instrumentima u oblasti mikroelektronike.

- sposobnost snimanja karakteristika poluprovodničkih komponenti uz pomoć trasera krivih - sposobnost praktičnog testiranja pasivnih komponenti (otpornika, kondenzatora, induktora) - sposobnost merenja s/z/y-parametara, mikroelektronskih komponenti uz pomoć Vector Network Analyzer-a - sposobnost posmatranja specijalnih efekata na silicijumskom vejferu korišćenjem Wafer Probe Station

Uvod. Metode za testiranje mikroelektronskih komponenti i kola. Snimanje karakteristika poluprovodničkih komponenti (diode, Zener diode, tranzistora, MOSFET-a). Praktičan rad sa traserom Tektronix Curve Tracer (type 576). Karakterizacija i testiranje pasivnih komponenti (otpornika, kondenzatora, induktora). Praktičan rad sa HP 4277A LCZ metrom. Merenje s/z/y-parametara, merenje Q-faktora, merenje koeficijenta refleksije/transmisije. Praktičan rad sa Vector Network Analyzer-om Agilent E5071B. Merenja na wafer-y. Praktičan rad sa Wafer Probe Station. Posmatranje specijalnih efekata na čipu uz pomoć mikroskopa.

Predavanja; Auditorne vežbe; Računarske vežbe; Laboratorijske vežbe; Konsultacije.