Стицање практичних знања из области карактеризације и тестирања микроелектронских кола, експериментални рад са мерним инструментима у области микроелектронике.

- способност снимања карактеристика полупроводничких компоненти уз помоћ трасера кривих - способност практичног тестирања пасивних компоненти (отпорника, кондензатора, индуктора) - способност мерења s/z/y-параметара, микроелектронских компоненти уз помоћ Vector Network Analyzer-a - способност посматрања специјалних ефеката на силицијумском вејферу коришћењем Wafer Probe Station

Увод. Методе за тестирање микроелектронских компоненти и кола. Снимање карактеристика полупроводничких компоненти (диоде, Зенер диоде, транзистора, МОСФЕТ-а). Практичан рад са трасером Tektronix Curve Tracer (type 576). Карактеризација и тестирање пасивних компоненти (отпорника, кондензатора, индуктора). Практичан рад са HP 4277A LCZ метром. Мерење s/z/y-параметара, мерење Q-фактора, мерење коефицијента рефлексије/трансмисије. Практичан рад са Vector Network Analyzer-om Agilent E5071B. Мерења на wafer-y. Практичан рад са Wafer Probe Station. Посматрање специјалних ефеката на чипу уз помоћ микроскопа.

Предавања; Аудиторне вежбе; Рачунарске вежбе; Лабораторијске вежбе; Консултације.